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電子產(chǎn)品可靠性與白盒測(cè)試培訓(xùn)

課程背景
白盒測(cè)試的核心是波形診斷、器件參數(shù)分析、器件失效機(jī)理激發(fā)等內(nèi)容，通過(guò)對(duì)具體深入細(xì)節(jié)的測(cè)試測(cè)量，與預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、波形對(duì)比，發(fā)現(xiàn)其中的隱患。本課程著重從被測(cè)對(duì)象的隱患點(diǎn)、外部應(yīng)力、過(guò)渡過(guò)程、器件失效機(jī)理、工藝隱患等幾個(gè)方面展開(kāi)測(cè)試用例設(shè)計(jì)，既講解了測(cè)試用例的思考分析方法，又深入展開(kāi)了細(xì)節(jié)的具體問(wèn)題點(diǎn)分析。
通過(guò)本課程，可以快速積累測(cè)試經(jīng)驗(yàn)、掌握測(cè)試項(xiàng)目的選擇和測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法，為企業(yè)產(chǎn)品通過(guò)測(cè)試把關(guān)的方式實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性短期內(nèi)大幅度的提升保駕護(hù)航。

活動(dòng)綱要/Outline
講課內(nèi)容屆時(shí)根據(jù)實(shí)際情況會(huì)有所調(diào)整。
1、 測(cè)試基礎(chǔ)
1.研發(fā)樣機(jī)測(cè)試與中試樣機(jī)測(cè)試的區(qū)別
2.原理驗(yàn)證和一致性驗(yàn)證的判據(jù)區(qū)別
3.測(cè)試的工具方法類型（模擬測(cè)試、仿真、工程計(jì)算、規(guī)范審查）
4.基于單一故障的接口故障分析及測(cè)試模擬方法
5.測(cè)試覆蓋率與MECE方法

2、波形診斷
1.電路常見(jiàn)異常波形的種類
2.回勾波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
3.過(guò)沖波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
4.振蕩波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
5.平臺(tái)波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
6.塌陷波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
7.鼓包波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
3、參數(shù)計(jì)算與審查
1.WCCA參數(shù)分析      2.容差計(jì)算
3.蒙特卡洛分析方法  4.降額審查
5.熱測(cè)試與計(jì)算
6.常用各類電路里器件參數(shù)計(jì)算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開(kāi)關(guān)管等）

4、一致性測(cè)試及測(cè)試數(shù)據(jù)分析
1.批次數(shù)據(jù)分析 
2.正態(tài)分布的工程意義
3.各種異化正態(tài)分布曲線的含義與機(jī)理
5、單一故障分析與模擬測(cè)試
1.設(shè)計(jì)調(diào)查表
2.用戶現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境條件（環(huán)境對(duì)產(chǎn)品零部件的失效影響及模擬測(cè)試方法）
3.人機(jī)接口條件（操作者認(rèn)知與習(xí)慣的潛在隱患防護(hù)）
4.關(guān)聯(lián)設(shè)備的相互影響（能量與信號(hào)輸入輸出的相互潛在影響及模擬測(cè)試方法）

6、基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試
1.常用器件、部件零件的失效機(jī)理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對(duì)失效機(jī)理的模擬測(cè)試用例設(shè)計(jì)
7、軟件測(cè)試
1.路徑覆蓋的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
2.數(shù)據(jù)覆蓋的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
3.黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
8、器件質(zhì)量控制測(cè)試
1.光學(xué)檢測(cè)  
2.參數(shù)測(cè)試與統(tǒng)計(jì)分析
3.IV曲線測(cè)試

9、標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試
1.通用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目
2.安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測(cè)試判據(jù)、氣、液、電混合布局安規(guī)測(cè)試用例）
3.電磁兼容
4.產(chǎn)品內(nèi)部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測(cè)試
10、基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試
1.常用器件、部件零件的失效機(jī)理和失效誘發(fā)應(yīng)力
2.針對(duì)失效機(jī)理的模擬測(cè)試用例設(shè)計(jì)
11、應(yīng)力變化率測(cè)試
1.環(huán)境應(yīng)力變化率的影響
2.負(fù)載應(yīng)力變化率的影響
3.能量及信號(hào)輸入變化率的影響
4.過(guò)渡過(guò)程應(yīng)力對(duì)設(shè)備故障的影響
12、組合應(yīng)力測(cè)試
1.現(xiàn)場(chǎng)多應(yīng)力組合示例
13、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法
1.電流應(yīng)力與電壓應(yīng)力的故障特征區(qū)別
2.突發(fā)浪涌應(yīng)力與持續(xù)過(guò)電應(yīng)力的故障特征區(qū)別

講師介紹/Lecturer
武曄卿
中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)特聘專家
電子工程碩士，曾任航天二院總體設(shè)計(jì)所主任設(shè)計(jì)師、高級(jí)項(xiàng)目經(jīng)理，機(jī)電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級(jí)優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。有電子產(chǎn)品、軍工、通信等專業(yè)方向的設(shè)計(jì)、測(cè)評(píng)和技術(shù)管理經(jīng)歷，對(duì)產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會(huì)議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章。
曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測(cè)控、北京航天長(zhǎng)峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、南車四方股份等企業(yè)提供專業(yè)技術(shù)和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。

電子產(chǎn)品可靠性與白盒測(cè)試培訓(xùn)